Schutz, F., L. M. Bedin, e J. C. Sarriera. “Propriedades Psicométricas Da Escala De Presença Em Tecnologias Ubíquas”. Psico, vol. 51, nº 2, fevereiro de 2020, p. e31628, doi:10.15448/1980-8623.2020.2.31628.