SCHUTZ, F.; BEDIN, L. M.; SARRIERA, J. C. Propriedades Psicométricas da Escala de Presença em Tecnologias Ubíquas. Psico, [S. l.], v. 51, n. 2, p. e31628, 2020. DOI: 10.15448/1980-8623.2020.2.31628. Disponível em: https://revistaseletronicas.pucrs.br/index.php/revistapsico/article/view/31628. Acesso em: 20 abr. 2024.